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綜合薄膜測量軟件 集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學(xué)特性。利用快速擬合算法，通過改變模型參數(shù)將計(jì)算得到的光譜調(diào)整到實(shí)測光譜。
臺(tái)式薄膜探針反射儀 二十年來，SENTECH已經(jīng)成功地銷售了用于各種應(yīng)用的薄膜厚度探針FTPadv。這種臺(tái)式反射儀的特點(diǎn)是不管在低溫或高溫下，在工業(yè)或研發(fā)環(huán)境中，都能通過遠(yuǎn)程或直接控制，對(duì)小樣品或大樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)或在線厚度測量。
反射膜厚儀 我們的反射儀的特點(diǎn)是通過樣品的高度和傾斜調(diào)整進(jìn)行準(zhǔn)確的單光束反射率測量，光學(xué)布局的高光導(dǎo)允許對(duì)n和k進(jìn)行重復(fù)測量，對(duì)粗糙表面進(jìn)行測量以及對(duì)非常薄的薄膜進(jìn)行厚度測量
